مىكرو ئانالىز تېخنىكىسىنىڭ مۇھىم ئۈسكۈنىلىرى: ئوپتىكىلىق مىكروسكوپ (OM) ، قوش نۇرلۇق سىكانېرلاش ئېلېكترونلۇق مىكروسكوپ (DB-FIB) ، سىكاننېرلاش ئېلېكترونلۇق مىكروسكوپ (SEM) ۋە ئېلېكترونلۇق مىكروسكوپ (TEM).بۈگۈنكى ماقالىدە DB-FIB نىڭ پرىنسىپى ۋە قوللىنىلىشى تونۇشتۇرۇلۇپ ، رادىئو-تېلېۋىزىيە ئۆلچەم DB-FIB نىڭ مۇلازىمەت ئىقتىدارى ۋە DB-FIB نىڭ يېرىم ئۆتكۈزگۈچ ئانالىزىغا قوللىنىلىشى ئاساس قىلىنىدۇ.
DB-FIB دېگەن نېمە
قوش نۇرلۇق سىكانېرلاش ئېلېكترونلۇق مىكروسكوپ (DB-FIB) بىر مىكروسكوپتا فوكۇسلانغان ئىئون لامپىسى ۋە سىكانېرلاش ئېلېكترون نۇرنى بىرلەشتۈرىدىغان قورال بولۇپ ، گاز پۈركۈش سىستېمىسى (GIS) ۋە نانو كونتروللىغۇچ قاتارلىق قوشۇمچە زاپچاسلار بىلەن تەمىنلەنگەن بولۇپ ، نۇرغۇن ئىقتىدارلارنى ئەمەلگە ئاشۇرالايدۇ. مەسىلەن ، چاتاش ، ماتېرىيال چۆكۈش ، مىكرو ۋە نانو بىر تەرەپ قىلىش.
بۇنىڭ ئىچىدە فوكۇسلانغان ئىئون لامپىسى (FIB) سۇيۇق گاللىي مېتال (Ga) ئىئون مەنبەسى ھاسىل قىلغان ئىئون نۇرىنى تېزلىتىدۇ ، ئاندىن ئەۋرىشكە يۈزىگە مەركەزلەشتۈرۈپ ئىككىلەمچى ئېلېكترونلۇق سىگنال ھاسىل قىلىدۇ ۋە تەكشۈرگۈچ تەرىپىدىن يىغىۋېلىنىدۇ.ياكى كۈچلۈك بولغان ئىئون لامپىنى ئىشلىتىپ ئەۋرىشكە يۈزىنى مىكرو ۋە نانو پىششىقلاپ ئىشلەشكە ئىشلىتىڭ.فىزىكىلىق پۈركۈش ۋە خىمىيىلىك گاز رېئاكسىيەسىنىڭ بىرىكمىسىنى مېتال ۋە ئىزولياتورنى تاللاشقا ياكى قويۇشقا ئىشلىتىشكە بولىدۇ.
DB-FIB نىڭ ئاساسلىق ئىقتىدارلىرى ۋە قوللىنىلىشى
ئاساسلىق ئىقتىدارلىرى: مۇقىم نۇقتا ھالقىسىنى بىر تەرەپ قىلىش ، TEM ئەۋرىشكىسى تەييارلاش ، تاللاش ياكى كۈچەيتىش ، مېتال ماتېرىيال چۆكۈش ۋە ئىزولياتسىيىلىك قەۋەت چۆكۈش.
قوللىنىشچان ساھە: DB-FIB ساپال ماتېرىياللار ، پولىمېرلار ، مېتال ماتېرىياللار ، بىئولوگىيە ، يېرىم ئۆتكۈزگۈچ ، گېئولوگىيە ۋە باشقا تەتقىقات ۋە مۇناسىۋەتلىك مەھسۇلاتلارنى سىناق قىلىش ساھەلىرىدە كەڭ قوللىنىلىدۇ.بولۇپمۇ DB-FIB نىڭ ئۆزگىچە مۇقىم نۇقتىلىق يەتكۈزۈش ئەۋرىشكىسى تەييارلاش ئىقتىدارى يېرىم ئۆتكۈزگۈچ مەغلۇبىيىتىنى ئانالىز قىلىش ئىقتىدارىدا ئورنىنى باسالمايدۇ.
GRGTEST DB-FIB مۇلازىمەت ئىقتىدارى
ھازىر شاڭخەي IC سىناق ۋە ئانالىز تەجرىبىخانىسى تەمىنلىگەن DB-FIB بولسا Helios G5 يۈرۈشلۈك تېرمو مەيدانى بولۇپ ، بۇ بازاردىكى ئەڭ ئىلغار Ga-FIB تۈرى.بۇ يۈرۈشلۈك ئېلېكترونلۇق نۇرنى تەسۋىر ھاسىل قىلىش ئېنىقلىق دەرىجىسى 1 nm دىن تۆۋەن بولىدۇ ، ھەمدە ئالدىنقى ئەۋلاد ئىككى نۇرلۇق ئېلېكترونلۇق مىكروسكوپقا قارىغاندا ئىئون نۇر دەستىسىنىڭ ئىقتىدارى ۋە ئاپتوماتلاشتۇرۇش جەھەتتە تېخىمۇ ئەلالاشتۇرۇلغان.DB-FIB ھەر خىل ئاساسىي ۋە ئىلغار يېرىم ئۆتكۈزگۈچ مەغلۇبىيىتىنى ئانالىز قىلىش ئېھتىياجىنى قاندۇرۇش ئۈچۈن ، نانوپولاتور ، گاز پۈركۈش سىستېمىسى (GIS) ۋە ئېنېرگىيە سپېكترى EDX قاتارلىقلار بىلەن تەمىنلەنگەن.
يېرىم ئۆتكۈزگۈچ فىزىكىلىق مۈلۈك مەغلۇبىيىتىنى ئانالىز قىلىشنىڭ كۈچلۈك قورالى بولۇش سۈپىتى بىلەن ، DB-FIB نانومېتىر ئېنىقلىقى بىلەن مۇقىم نۇقتىنى كېسىش ماشىنىسىنى ئىشلىيەلەيدۇ.FIB پىششىقلاپ ئىشلەش بىلەن بىر ۋاقىتتا ، نانومېتىر ئېنىقلىقتىكى سىكانېرلاش ئېلېكترون دەستىسى ئارقىلىق بۆلەكلەرنىڭ مىكروسكوپ مورفولوگىيىسىنى كۆزىتىپ ، تەركىبىنى دەل ۋاقتىدا تەھلىل قىلىشقا بولىدۇ.ئوخشىمىغان مېتال ماتېرىياللار (تۇڭگېن ، پىلاتىنا قاتارلىقلار) ۋە مېتال بولمىغان ماتېرىياللار (كاربون ، SiO2) نىڭ چۆكۈشىنى قولغا كەلتۈرۈش.TEM دەرىجىدىن تاشقىرى نېپىز پارچىلارنىمۇ مۇقىم نۇقتىدا تەييارلىغىلى بولىدۇ ، بۇ ئاتوم سەۋىيىسىدىكى دەرىجىدىن تاشقىرى يۇقىرى ئېنىقلىقتىكى كۆزىتىش تەلىپىگە ماس كېلىدۇ.
بىز داۋاملىق ئىلغار ئېلېكترونلۇق مىكرو ئانالىز ئۈسكۈنىلىرىگە مەبلەغ سېلىپ ، يېرىم ئۆتكۈزگۈچ مەغلۇبىيىتىنى تەھلىل قىلىش ئىقتىدارىنى ئۈزلۈكسىز ياخشىلاپ ۋە كېڭەيتىپ ، خېرىدارلارنى تەپسىلىي ۋە ئەتراپلىق مەغلۇبىيەت ئانالىز قىلىش چارىسى بىلەن تەمىنلەيمىز.
يوللانغان ۋاقتى: Apr-14-2024